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光学模具和镜片的粗糙度测量

文章出处:admin 人气:1047发表时间:2020-3-9

     恩思汇精密仪器服务热线:

0512-62587980


新型高精度白光干涉仪测量系统MarSurf WM 100,是具有亚纳米级分辨率和最高测量精度的全新光学测量仪器。


它配备了全新的摄像头、功能强大的干涉仪软件和Win 10操作系统,适用于所有光学和反射表面,精细技术表面以及电路板,半导体产品和生物组织表面的测量。 


特征优势一览:


  • 2D表面分析及测量评价

  • 形貌3D分析及测量评价

  • 4轴手动定位工作台

  • 多种可供选择的测量物镜

  • 不同的测量模式: VSI、EPSI、PSI

  • 二分之一lambda的特殊评价方法

  • 基于MountainsMap的专业版评价软件

MarSurf WM 100的传感器单元可以在Z轴方向上手动移动200mm以上,工作台也可以在X轴和Y轴方向上手动进行自由调整,可达到100μm(纵向)的测量范围。根据客户测量任务,Mahr还可满足更多测量范围的定制要求。选配的主动减震平台,可在纳米和亚纳米级测量时减低震动,降低测量时操作环境等外因造成干扰。


应用行业:

光学行业
  • 各种光学元件的粗糙度分析(所有材料)

 电子行业
  • 镀膜表面分析,电子原件和半导体测量和分析

机械工程行业:
  • 各种金属表面(磨加工,滚筒等)
  • 激光纹理表面,陶瓷和塑料表面,模具表面

医疗行业:
  • 植入物,假肢和仪器的金属,陶瓷和塑料表面

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