光学模具和镜片的粗糙度测量
文章出处:admin 人气:1427发表时间:2020-3-9
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新型高精度白光干涉仪测量系统MarSurf WM 100,是具有亚纳米级分辨率和最高测量精度的全新光学测量仪器。
它配备了全新的摄像头、功能强大的干涉仪软件和Win 10操作系统,适用于所有光学和反射表面,精细技术表面以及电路板,半导体产品和生物组织表面的测量。
特征优势一览:
2D表面分析及测量评价
形貌3D分析及测量评价
4轴手动定位工作台
多种可供选择的测量物镜
不同的测量模式: VSI、EPSI、PSI
二分之一lambda的特殊评价方法
基于MountainsMap的专业版评价软件
MarSurf WM 100的传感器单元可以在Z轴方向上手动移动200mm以上,工作台也可以在X轴和Y轴方向上手动进行自由调整,可达到100μm(纵向)的测量范围。根据客户测量任务,Mahr还可满足更多测量范围的定制要求。选配的主动减震平台,可在纳米和亚纳米级测量时减低震动,降低测量时操作环境等外因造成干扰。
应用行业:
各种光学元件的粗糙度分析(所有材料)
镀膜表面分析,电子原件和半导体测量和分析
各种金属表面(磨加工,滚筒等) 激光纹理表面,陶瓷和塑料表面,模具表面
植入物,假肢和仪器的金属,陶瓷和塑料表面
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