MarSurf WM 100光学测量单元

• 亚纳米分辨率和测量精确度下有最高精度 ； 适合所有光学和反射表面、精细技术表面和电路板、半导体产品和生物组织表面 ； 2D 表面分析和测量评估 ； 地形学 3D 表面分析和测量评估 ； 快速测量 #96 短测量时间 ； 在最多 4 个轴上手动定位工作台和物体 ； 多种镜头选择，可根据测量对象进行完美调整 ； 采用花岗石底座的稳固型设计 ； 基于 MountainsMap© 的专业评估软件 。

• 咨询热线：0512-6258 7980
•